Optical Metrology 2010

ist eine internationale Konferenz zur Integration optischer Messtechnik in Industrie und Forschung.

Optical Metrology 2010 ist eine Veranstaltung auf der Führungskräfte industrieller Branchen zusammentreffen. Sie bietet eine Plattform zum Erfahrungsaustausch für Manager, Messtechniker sowie für Experten aus Technologie und Forschung.

Optical Metrology 2010 ist in zwei separate Veranstaltungen aufgeteilt:

Deformationsmessungen
in Material- und Bauteilprüfung und 3D-Bewegungsanalyse
20.09 bis 21.09.2010

Digitalisierung
in Qualitätskontrolle, Inspektion und Reverse Engineering
22.09 bis 23.09.2010

Die Teilnahme an der Konferenz ist kostenlos, Tagungsort ist Braunschweig. Die Konferenzsprache ist Englisch.

Seit über 10 Jahren veranstaltet die GOM regelmäßig internationale Konferenzen. Zu den Besuchern der Veranstaltung zählen die Automobil-, Luftfahrt- und Energieerzeugungsindustrien, deren Zulieferern, zahlreiche Herstellen von Konsumgütern, Forschungszentren und Universitäten. Die Konferenz bietet den Teilnehmern die Möglichkeit, Ideen auszutauschen, neue Technologien kennenzulernen, Prozesse zu verbessern und voneinander zu lernen.

Zur Anmeldung werden wir Ihnen an dieser Stelle ab April ein Formular zur Verfügung stellen.

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